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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱(chēng)：Chroma11210電池芯絕緣測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-10

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

專(zhuān)業(yè)為祖國(guó)用戶(hù)提供Chroma11210電池芯絕緣測(cè)試儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

      專(zhuān)業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent產(chǎn)品技術(shù)支持工程師-堅(jiān)JET和吉時(shí)利KEITHLEY產(chǎn)品技術(shù)應(yīng)用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術(shù)支持為特色的代理貿(mào)易公司，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多廠(chǎng)家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷(xiāo)售點(diǎn)，技術(shù)支持薄弱或沒(méi)有，而代理經(jīng)銷(xiāo)商也只專(zhuān)做銷(xiāo)售，不專(zhuān)業(yè)做售前技術(shù)答疑/測(cè)試方案，不專(zhuān)業(yè)做售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)銷(xiāo)售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們*進(jìn)*的經(jīng)營(yíng)理念，專(zhuān)業(yè)為祖國(guó)用戶(hù)提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

Chroma11210電池芯絕緣測(cè)試儀主要特色：

測(cè)試電壓:  1KV (dc)

充電電流: 大 50mA

寬范圍的漏電流量測(cè) (10pA ~ 20mA)

針對(duì)鋰電池潛在的內(nèi)部短路問(wèn)題，執(zhí)行局部放電 (Partial Discharge)/電氣閃絡(luò) (Flashover)之偵測(cè)(選購(gòu)項(xiàng)目 A112100):

- 局部放電強(qiáng)度及次數(shù)的偵測(cè)與顯示

- 在電壓/電流波形上，對(duì)局部放電做監(jiān)控

- 可設(shè)定局部放電之強(qiáng)度作為測(cè)試通關(guān)之條件

- 可即時(shí)顯示和儲(chǔ)存發(fā)生局部放電時(shí)的電壓/電流波形 (選購(gòu)項(xiàng)目 A112101)

內(nèi)建快速且可靠的接觸檢查功能

依順序自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試程序:充電→保持→測(cè)量→放電

快速量測(cè) (20ms/device)

480x272像素全彩顯示以及方便的觸控式螢?zāi)?/span>

具有標(biāo)準(zhǔn)Handler 介面以及USB、RS-232、Ethernet 等通訊介面

應(yīng)用領(lǐng)域

專(zhuān)門(mén)針對(duì)鋰電池干電芯之絕緣測(cè)試

亦適用于各式各樣電容產(chǎn)品或特殊絕緣材料之絕緣測(cè)試

Chroma11210電池芯絕緣測(cè)試儀為專(zhuān)門(mén)量測(cè)鋰電池(干電芯)之漏電流(LC)或絕緣電阻(IR)并可進(jìn)行絕緣品質(zhì)檢測(cè)所新推出之儀器。除鋰電池干電芯以外，亦可量測(cè)各式電容產(chǎn)品和絕緣材料，除標(biāo)準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)以外，11210尚具有一特殊功能: 于高壓量測(cè)過(guò)程中，可針對(duì)絕緣體內(nèi)微小的局部放電(Partial Discharge, PD) 或電氣閃絡(luò)(Flashover) 進(jìn)行偵測(cè)與分析(以下簡(jiǎn)稱(chēng)"PD偵測(cè)功能")，此功能可確保鋰電池干電芯在電解液填充前的品質(zhì)，在生產(chǎn)線(xiàn)上，能將具有潛在瑕疵的產(chǎn)品提前篩出，避免瑕疵產(chǎn)品進(jìn)入下一生產(chǎn)階段或什至進(jìn)入終端市場(chǎng)，相對(duì)于傳統(tǒng)的絕緣測(cè)試，11210在絕緣材料品質(zhì)檢測(cè)這個(gè)領(lǐng)域，進(jìn)入了一個(gè)新的境界。

Chroma 11210擁有高水平的充電電流和快速的量測(cè)電路，使得整體測(cè)試速度得以大幅提升，對(duì)一般電容性待測(cè)物所做的絕緣測(cè)試均可細(xì)分為四個(gè)程序: 充電→保持→測(cè)量→放電，11210可高速而自動(dòng)的依序執(zhí)行這些程序，可以在20ms內(nèi)執(zhí)行完一個(gè)完整測(cè)試。亦即，如生產(chǎn)線(xiàn)需要執(zhí)行高速測(cè)試，11210可以達(dá)到每秒50 pcs的超高速度，對(duì)于生產(chǎn)線(xiàn)的效率提升非常顯著！

為了達(dá)到準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)，Chroma 11210在漏電流量測(cè)上可細(xì)分為7個(gè)檔位，從小10pA到大20mA均可量測(cè)。另外，Auto-range之功能可自動(dòng)切換至佳檔位執(zhí)行量測(cè)，省卻使用者的不便并確保量測(cè)精度。

在PD偵測(cè)的方面，由于Chroma 11210使用特殊電路設(shè)計(jì)，在執(zhí)行此PD檢測(cè)功能并不會(huì)增加任何額外的測(cè)試時(shí)間，LC/IR的量測(cè)與PD偵測(cè)可在同一時(shí)間內(nèi)完成；同時(shí)， LC/IR量測(cè)與PD偵測(cè)的結(jié)果可連同報(bào)表同時(shí)產(chǎn)出并在螢?zāi)簧铣尸F(xiàn)。于生產(chǎn)線(xiàn)上，仍可以20ms/min.的高速同時(shí)執(zhí)行LC/IR量測(cè)和PD檢測(cè)。

對(duì)于任何一項(xiàng)絕緣測(cè)試而言，接觸檢查對(duì)于測(cè)試的可靠性都有決定性的影響，在整個(gè)量測(cè)過(guò)程中，"沒(méi)有接觸"也很有可能被判定為良品，這樣的誤判會(huì)讓不良品進(jìn)入市場(chǎng)，如果待測(cè)物的絕緣電阻非常高，這種誤判情形會(huì)更明顯；所以一般而言，絕緣測(cè)試在測(cè)試過(guò)程中一定要進(jìn)行接觸檢查，Chroma 11210架構(gòu)使用高階電路，可在5ms內(nèi)執(zhí)行一次完整的接觸檢查，并可選擇量測(cè)前執(zhí)行、量測(cè)后執(zhí)行或量測(cè)前后皆執(zhí)行。

鋰電池安全課題

鋰電池(LIB)的起火或爆炸所造成的災(zāi)難已經(jīng)是近年來(lái)為使用者所嚴(yán)重關(guān)切的議題，隨著科技不斷的演進(jìn)，鋰電池的能量密度也不斷地提高，鋰電池安全性的問(wèn)題更進(jìn)一步演變成使用者生活中的一個(gè)潛在危機(jī)! 為*杜絕這樣的潛在危機(jī)，鋰電池起火爆炸的根因必須要被找到，有潛在危機(jī)的產(chǎn)品必須要在出廠(chǎng)前被篩出；近的研究顯示，正極的鋁金屬(AL) 與負(fù)極的涂布材料(Anode) 之間的短路是起火爆炸的根因[圖1]，而正極鋁金屬上的毛刺或于絕緣層中的雜質(zhì)顆粒是此等內(nèi)部短路的主因[圖2]。

近期的研究也顯示，負(fù)極涂布的材料(通常是石墨) 在每一次充電過(guò)程中都會(huì)稍微的膨脹，經(jīng)過(guò)多次充電后，因?yàn)榕蛎泴?dǎo)致厚度增加高達(dá)24%或更多，充電次數(shù)越多，膨脹也可能越大，如果正極鋁金屬片上有微小的毛刺，上述的膨脹現(xiàn)象會(huì)讓該毛刺遲早碰觸到負(fù)極涂布材料，終釀成災(zāi)害[圖3]。通常鋰電池在生產(chǎn)線(xiàn)上都會(huì)經(jīng)歷過(guò)幾回的充放電循環(huán)。舉例來(lái)說(shuō)，若有兩個(gè)瑕疵電池，都各自具有一個(gè)長(zhǎng)度不同的毛刺在其鋁電極板上[圖4中的case 1 & case2 ]，case 1 極可能在生產(chǎn)線(xiàn)上的第二回充電時(shí)，就爆發(fā)內(nèi)短路的問(wèn)題。

PD局部放電偵測(cè)與量測(cè)功能

Chroma 11210的PD局部放電偵測(cè)功能可以偵測(cè)任何未注液的鋰電池干電芯里的異物，當(dāng)有任何金屬毛邊或異物(金屬顆粒) 存在于絕緣層(隔離膜) 中，會(huì)使絕緣距離減少但不至于造成短路，因?yàn)樵跈z測(cè)時(shí)并沒(méi)有短路現(xiàn)象，一般的絕緣電阻測(cè)試儀無(wú)法檢測(cè)出有這樣潛在危險(xiǎn)的產(chǎn)品，11210可以在產(chǎn)品發(fā)生問(wèn)題前就偵測(cè)到有潛在短路的風(fēng)險(xiǎn)，透過(guò)施加適當(dāng)?shù)臏y(cè)試電壓以及PD大小，量測(cè)隔離膜的有效距離(詳見(jiàn)右方的等式及說(shuō)明)。

Chroma 11210電池芯絕緣測(cè)試儀可偵測(cè)發(fā)生在鋰電池芯內(nèi)部的任何局部放電(Partial Discharge, PD)或電氣閃絡(luò)(Flashover)。 11210采用兩種階段的PD偵測(cè)，并且使用不同的電路。一階段是當(dāng)使用者設(shè)定好充電電流并對(duì)待測(cè)物充電，此時(shí)處于CC (Constant Current)模式，在此模式下，11210會(huì)持續(xù)監(jiān)測(cè)電壓的準(zhǔn)位以及斜率，只要電壓在爬升階段有任何的微小放電使電壓有微小的下降后又爬升，11210會(huì)回報(bào)有PD產(chǎn)生(顯示為  )；第二階段是CV (Constant Voltage) 模式，在此模式下，只應(yīng)存在著穩(wěn)定的漏電流，有任何在電流波形上的異常或脈沖，通常為異常放電(即PD或Flashover)，此異常也會(huì)被11210偵測(cè)到并回報(bào)有PD發(fā)生(顯示為  )，11210不僅可以進(jìn)行偵測(cè)，還可以在CC與CV模式下偵測(cè)PD的強(qiáng)度 (Note *1) 。 [圖5]

[圖5] 在CC模式與CV模式下，Partial Discharge/Flashover偵測(cè)

[圖6] 在CC & CV模式下，Chroma 11210回報(bào)偵測(cè)出PD

無(wú)論在CC或CV模式下，Chroma 11210都能夠偵測(cè)這些PD的大小及次數(shù)，強(qiáng)度可達(dá)99。并且可以制定PD大小的上限制，作為pass/fail的判定標(biāo)準(zhǔn)，幫助電池芯廠(chǎng)商分辨出良品/不良品。

Note *1: 當(dāng)PD脈沖持續(xù)時(shí)間小于100us以及脈沖間隔大于300us，此時(shí)量測(cè)放電量準(zhǔn)確

因?yàn)榫邆?的PD偵測(cè)以及量測(cè)功能，Chroma 11210可以檢測(cè)出一般的絕緣電阻計(jì)或耐壓測(cè)試儀無(wú)法測(cè)出的問(wèn)題。一般的絕緣電阻計(jì)或耐壓測(cè)試儀只能在特定的時(shí)間間隔內(nèi)量測(cè)漏電流的平均值，無(wú)法監(jiān)控電壓及電流波形中的任何異常變化，反觀(guān)Chroma 11210能夠提供非常穩(wěn)定的測(cè)試電壓，電壓爬升為線(xiàn)性，因此可以偵測(cè)為短路；一般的絕緣電阻計(jì)或耐壓測(cè)試儀電壓爬升非線(xiàn)性，即使電壓穩(wěn)態(tài)，仍有大的漣波與雜訊，因此無(wú)法進(jìn)行短路偵測(cè)。 [圖7]

[圖7] 如果沒(méi)有監(jiān)控波形，有任何PD或flashover發(fā)生使波形發(fā)生異常變化，都無(wú)法偵測(cè)到，Chroma 11210可監(jiān)控電壓電流波形，在右圖可以觀(guān)察到有兩次PD現(xiàn)象發(fā)生，一次在CV模式、另一次在CC模式。

測(cè)試完成后，工程人員需要檢查不良品(因PD而導(dǎo)致)的實(shí)際電壓與電流波形，Chroma 11210亦提供可記錄每個(gè)不良品發(fā)生PD現(xiàn)象的電壓波形，使用者可以縮放記錄內(nèi)的波形圖，可簡(jiǎn)易地查看PD現(xiàn)象的波形細(xì)節(jié)，此??功能對(duì)于品保及研發(fā)單位提供大助益。

電容測(cè)試應(yīng)用

Chroma 11210為絕緣電阻表Chroma 11200的進(jìn)階版，11210具有更多的功能以及更優(yōu)的精度，同時(shí)也保留了11200的主要功能，因此Chroma 11210也同樣適用于需要高階絕緣電阻表測(cè)試的電容器。 [圖8]

[圖8] 當(dāng)11210的待測(cè)物為電容時(shí)的測(cè)試架構(gòu)圖

在生產(chǎn)線(xiàn)上，Chroma 11210搭配適當(dāng)?shù)臏y(cè)試治具就能進(jìn)行非常高速的電容量測(cè)(~20ms per DUT)，并具有寬范圍的LC/IR量測(cè)以及高精度，Chroma 11210 可為所有電容生產(chǎn)線(xiàn)提供一個(gè)嶄新的絕緣檢測(cè)。

Chroma 11210 PD檢測(cè)功能除了于鋰電池干電芯的絕緣檢測(cè)外，PD功能亦能夠清楚地檢測(cè)電容內(nèi)部情況。使用者亦可從Chroma 11210收集的數(shù)據(jù)中進(jìn)一步改善絕緣，確保品質(zhì)可進(jìn)一步提升。

如前所述，在典型的絕緣測(cè)試中，會(huì)依次執(zhí)行四個(gè)階段，即“充電→保持→測(cè)量→放電”[圖9]，Chroma 11210可讓使用者分別設(shè)定前三階段所需的時(shí)間，每一階段分別都可以設(shè)置5毫秒~99.999秒，而量測(cè)時(shí)間可以設(shè)置0秒為連續(xù)模式，直到按下停止鍵才會(huì)停止測(cè)試。 “保持"階段尤其重要，對(duì)于具有高電容量但絕緣電阻偏低的大型電容，使用者必須在量測(cè)之前設(shè)定足夠的延遲時(shí)間，待測(cè)物需要較長(zhǎng)的延遲時(shí)間才能使充電電流穩(wěn)定，避免影響到漏電流的量測(cè)。 Chroma 11210在這些參數(shù)中的設(shè)定非常靈活，并且能夠自動(dòng)依順序執(zhí)行這四個(gè)階段。對(duì)于電容生產(chǎn)測(cè)試，Chroma 11210可協(xié)助客戶(hù)建立可靠的自動(dòng)化量測(cè)，提供完整的測(cè)試解決方案。

[圖9] 一般絕緣測(cè)試的時(shí)序

11210 電池芯絕緣測(cè)試器

A112100 局部放電偵測(cè)卡

A112101 局部放電分析卡

A112102 局部放電模擬器

電池芯絕緣測(cè)試儀BATTERY CELL INSULATION TESTER MODEL 11210為專(zhuān)門(mén)量測(cè)鋰電池(乾電芯)之漏電流(LC)或絕緣電阻(IR)並可進(jìn)行絕緣品質(zhì)檢測(cè)所新推出之儀器。 除鋰電池乾電芯以外， 亦可量測(cè)各式電容產(chǎn)品和絕緣材料，除標(biāo)準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)以外， 11210尚具有一特殊功能 : 於高壓量測(cè)過(guò)程中， 可針對(duì)絕緣體內(nèi)微小的局部放電 (Partial Discharge, PD) 或電氣閃絡(luò)(Flashover) 進(jìn)行偵測(cè)與分析 (以下簡(jiǎn)稱(chēng)"PD偵測(cè)功能")， 此功能可確保鋰電池乾電芯在電解液填充前的品質(zhì)， 在生產(chǎn)線(xiàn)上， 能將具有潛在瑕疵的產(chǎn)品提前篩出， 避免瑕疵產(chǎn)品進(jìn)入下一生產(chǎn)階段或甚至進(jìn)入終端市場(chǎng)， 相對(duì)於傳統(tǒng)的絕緣測(cè)試，11210在絕緣材料品質(zhì)檢測(cè)這個(gè)領(lǐng)域， *進(jìn)入了一個(gè)新的境界。

Chroma 11210擁有高水平的充電電流和快速的量測(cè)電路， 使得整體測(cè)試速度得以大幅提升，對(duì)一般電容性待測(cè)物所做的絕緣測(cè)試均可細(xì)分為四個(gè)程序: 充電→保持→測(cè)量→放電， 11210可高速而自動(dòng)的依序執(zhí)行這些程序， 可以在20ms內(nèi)執(zhí)行完一個(gè)完整測(cè)試。 亦即， 如生產(chǎn)線(xiàn)需要執(zhí)行高速測(cè)試， 11210可以達(dá)到每秒50 pcs的超高速度， 對(duì)於生產(chǎn)線(xiàn)的效率提升非常顯著!

為了達(dá)到精準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)， Chroma 11210在漏電流量測(cè)上可細(xì)分為7個(gè)檔位， 從小10pA到大20mA均可量測(cè)。 另外， Auto-range之功能可自動(dòng)切換至佳檔位執(zhí)行量測(cè)， 省卻使用者的不便並確保量測(cè)精準(zhǔn)度。

在PD偵測(cè)的方面， 由於Chroma 11210使用特殊電路設(shè)計(jì)， 在執(zhí)行此PD檢測(cè)功能並不會(huì)增加任何額外的測(cè)試時(shí)間， LC/IR的量測(cè)與PD偵測(cè)可在同一時(shí)間內(nèi)完成； 同時(shí)， LC/IR量測(cè)與PD偵測(cè)的結(jié)果可連同報(bào)表同時(shí)產(chǎn)出並在螢?zāi)簧铣尸F(xiàn)。 於生產(chǎn)線(xiàn)上， 仍可以20ms/min.的高速同時(shí)執(zhí)行LC/IR量測(cè)和PD檢測(cè)。

對(duì)於任何一項(xiàng)絕緣測(cè)試而言， 接觸檢查對(duì)於測(cè)試的可靠性都有決定性的影響， 在整個(gè)量測(cè)過(guò)程中， "沒(méi)有接觸"也很有可能被判定為良品， 這樣的誤判會(huì)讓不良品進(jìn)入市場(chǎng)， 如果待測(cè)物的絕緣電阻非常高， 這種誤判情形會(huì)更明顯； 所以一般而言， 絕緣測(cè)試在測(cè)試過(guò)程中一定要進(jìn)行接觸檢查， Chroma 11210架構(gòu)使用高階電路， 可在5ms內(nèi)執(zhí)行一次完整的接觸檢查， 並可選擇量測(cè)前執(zhí)行、 量測(cè)後執(zhí)行或量測(cè)前後皆執(zhí)行。