SCS770715靜電事件探測(cè)儀EM EYE

英文名稱：EM Eye ESD Event Detection Meter

探測(cè)靜電放電次數(shù)和放電電壓 ，可選 HBM、MM、CDM模式

產(chǎn)品型號(hào)：770715

制造商：Desco Industries Inc（SCS 品牌）

770715：包含以下物品

770715探測(cè)儀（含傳感器模塊和CTS001天線）

CTC113-6FT：遠(yuǎn)端天線，常溫型，纜線長(zhǎng)度6英尺

SD內(nèi)存卡

SD卡托

電源適配器/電池充電器

手提箱

選配

CTC115-6FT：遠(yuǎn)端天線，高溫型，纜線長(zhǎng)度6英尺

探測(cè)靜電放電事件的次數(shù)和放電電壓值

具有分辨信號(hào)的能力，區(qū)分EMI和ESD信號(hào)，剔除非ESD相關(guān)事件

可設(shè)置探測(cè)距離1.3～38.1cm

可選擇CDM、HBM、MM放電模型

彩色觸摸屏操作方便

數(shù)據(jù)保存在SD卡，可以轉(zhuǎn)換為表單格式（EXCEL）

！ 注意!

不要使用任何工具裝卸探測(cè)模塊和天線，徒手即可，裝卸時(shí)動(dòng)作輕柔

裝卸天線時(shí)，不要過(guò)度用力擰緊 SMA 端子

在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下不要拔插探測(cè)模塊和天線，也不要拔插 SD 卡

使用儀器時(shí)要小心輕放，避免跌落

天線不要觸碰到帶電體

避免硬物劃傷屏幕

初次使用時(shí)，建議對(duì)電池進(jìn)行 3 次全充-放電循環(huán)，以延長(zhǎng)電池壽命

電池充滿時(shí)間為 2 小時(shí)左右，不要長(zhǎng)時(shí)間過(guò)充

充電的時(shí)候，確保在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下充電

不要使用第三方電源適配器，有可能造成儀器損壞

1. 產(chǎn)品描述

SCS770715靜電事件探測(cè)儀EM EYE是一款靜電事件探測(cè)儀，可以測(cè)試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器根據(jù)靜電放電（ESD）信號(hào)的特征波形，區(qū)分靜電放電和空間其他電磁信號(hào)，可剔除背景噪音或其他干擾信號(hào)。用戶可以選擇 CDM、HBM、MM 靜電放電模型，儀器根據(jù)放電模型、探測(cè)距離和信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出各個(gè)模型的放電電壓。

1 主機(jī)身

2 探測(cè)模塊

3 CTS001 定向天線

4 SD 內(nèi)存卡（已插入主機(jī)身）

5 SD 卡托

6 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，1.8 米長(zhǎng)纜線

7 電源適配器（4 款轉(zhuǎn)換頭）

8 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，抗高溫，1.8 米長(zhǎng)纜線

在關(guān)機(jī)狀態(tài)下

拔插 SD 卡

CTS001 天線

可單獨(dú)更換

2. 部件功能及安裝

 CTS001 為定向天線，只探測(cè)天線正前方的信號(hào)

 CTC113-6FT 為全向天線，可以探測(cè)到 360 度任何方向的信號(hào)，需要探測(cè)狹窄空間，可采用該天線

 如果需要探測(cè)高溫區(qū)域的靜電放電事件，選購(gòu) CTC115-6FT 高溫天線

 儀器默認(rèn)設(shè)置采用 CTS001 定向天線，如果采用 CTC113-6FT 或 CTC115-6FT 天線，需要在儀器設(shè)置中相應(yīng)選擇

 正常情況下無(wú)需拔插探測(cè)模塊，只有儀器維修或升級(jí)更換探測(cè)模塊時(shí)才需要拔插

 如果發(fā)生死機(jī)或其他故障，重新開(kāi)/關(guān)機(jī)一次，絕大多數(shù)故障可以消除定位插頭

CTC113-6FT

遠(yuǎn)端天線

線路端子

定位插頭

CTS001

定向天線

探測(cè)模塊

主機(jī)身

儀器底部

電源插孔 開(kāi)/關(guān)機(jī)鍵 耳機(jī)插孔

SD 卡槽

在嘈雜環(huán)境，可以用耳機(jī)，更容易聽(tīng)清楚報(bào)警聲

儀器不插入 SD 卡也可以正常測(cè)試，但不會(huì)保存數(shù)據(jù)

警告！拔插探測(cè)模塊和天線一定要在關(guān)機(jī)狀態(tài)下才可進(jìn)行拔插探測(cè)模塊，無(wú)需任何工具插入探測(cè)模塊時(shí)，左右定位插頭對(duì)準(zhǔn)主機(jī)身的定位孔，中間的線路端子對(duì)準(zhǔn)主機(jī)身中間的線路口

3. 儀器操作

 開(kāi)機(jī)：開(kāi)/關(guān)機(jī)鍵撥到左邊

 關(guān)機(jī)：開(kāi)/關(guān)機(jī)鍵撥到右邊

1 10 個(gè)弧形圓點(diǎn)：示意放電強(qiáng)度，點(diǎn)擊可設(shè)置報(bào)警閾值

2 閃電/三角符號(hào)：點(diǎn)擊可切換符號(hào)

閃電符號(hào)，只顯示靜電放電事件（ESD）

三角符號(hào)，顯示所有放電事件（包含 ESD 和 EMI）

3 探測(cè)距離：天線到被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)的距離，點(diǎn)擊可設(shè)置距離

4 聲音符號(hào)：點(diǎn)擊該符號(hào)可選擇報(bào)警聲類型及音量。鈴鐺符號(hào)為“叮鈴"聲，只有一個(gè)音量，不能調(diào)節(jié)。

點(diǎn)擊切換成喇叭符號(hào)，這時(shí)的儀器發(fā)出類似收音機(jī)調(diào)頻聲，聲音根據(jù)信號(hào)強(qiáng)度的大小變化。繼續(xù)點(diǎn)擊可以調(diào)節(jié)音量大小，在喇叭上出現(xiàn)×，表示靜音。

5 C 鍵：點(diǎn)擊該鍵清零屏幕顯示的讀數(shù)

6 Menu/F 鍵：點(diǎn)擊進(jìn)入儀器硬件設(shè)置界面

7 Hold 鍵：點(diǎn)擊后鎖定讀數(shù)（讀數(shù)上方顯示 Hold）；繼續(xù)點(diǎn)擊進(jìn)入最大值模式（讀數(shù)上方顯示 Max），在

該模式下，屏幕顯示探測(cè)到的最大讀數(shù)；再次點(diǎn)擊，退回到正常模式

8 時(shí)間：顯示當(dāng)前時(shí)間

9 電池符號(hào)：示意電量狀況（全黑 100%電量，半黑 50%電量，全白表示<1 小時(shí)電量，×表示電量耗盡，藍(lán)色表示正在充電）。點(diǎn)擊電池符號(hào)可設(shè)置日期和時(shí)間

10 SD 卡符號(hào)：點(diǎn)擊該符號(hào)，進(jìn)入查看界面，可以查看測(cè)試記錄

11 放電次數(shù)：該次數(shù)是累計(jì)次數(shù)，點(diǎn)擊 C 鍵可清零

12 放電模型：點(diǎn)擊可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input（原始信號(hào)）

13 放電電壓讀數(shù)：該儀器測(cè)試速度是皮秒級(jí)別的，顯示速度不可能這么快，所以屏幕以每秒 1 個(gè)讀數(shù)的速度來(lái)顯示，顯示的這個(gè)讀數(shù)是該秒內(nèi)所測(cè)到的所有值中最大的那個(gè)讀數(shù)（導(dǎo)出數(shù)據(jù)可以查看其他讀數(shù)）

3.1. 開(kāi)機(jī)界面

儀器開(kāi)機(jī)先顯示儀器固件號(hào)，如下所示：

稍后，進(jìn)入主界面。如果未插入 SD 卡或不能識(shí)別 SD 卡，出現(xiàn)以下提示：

無(wú) SD 卡也可以正常使用該儀器，但測(cè)試數(shù)據(jù)不會(huì)被保存。點(diǎn)擊棕色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進(jìn)入主界面。

注意！拔插 SD 卡時(shí)，儀器處于關(guān)機(jī)狀態(tài)。

3.2. 儀器硬件設(shè)置

點(diǎn)擊 Menu/F 鍵進(jìn)入硬件設(shè)置界面，顯示如下：

 第一行顯示儀器主板編號(hào)

 第二行為屏幕亮度，點(diǎn)擊圓盤的?/?增加或降低亮度，默認(rèn) 50%（可設(shè)置 10%~100%的亮度）

 點(diǎn)擊▲/▼滾動(dòng)到第三行“Dim time"項(xiàng)，設(shè)置自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間，默認(rèn) 5 分鐘（可設(shè)置 1~9 分鐘），點(diǎn)擊?/?

改變時(shí)間，一直點(diǎn)擊?，選擇 disabled，表示不啟用自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

 點(diǎn)擊▲/▼滾動(dòng)到第四行“Local antenna"項(xiàng)，點(diǎn)擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna

 Local antenna：采用 CTS001 定向天線

 Remote antenna：采用 CTC113-6FT 或 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

Display Module

KWH028 Q27-F02

Firmware Rev. 3.08

Desco Industries

2009-2024

WARNING:

No memory card.

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Window.

Hardware Setup

S/N 16065 CRC=00A7A9C9

Brightness: 50%

Dim time: 5 min

Local antenna

硬件設(shè)置界面

主板編號(hào)

屏幕亮度

自動(dòng)關(guān)機(jī)

選擇天線

3.3. 設(shè)置日期和時(shí)間

點(diǎn)擊電池符號(hào)進(jìn)入日期和時(shí)間設(shè)置界面，顯示如下：

 第一行設(shè)置時(shí)間，點(diǎn)擊圓盤▲/▼改變數(shù)值，點(diǎn)擊?/?移動(dòng)光標(biāo)向前或向后

 第二行設(shè)置日期，格式為：月/日/年（02/10/25 表示 2025 年 2 月 10 日）

 第三行選擇 12/24 小時(shí)制，點(diǎn)擊▲/▼選擇 12H 或 24H

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

4. 測(cè)試靜電放電（ESD）事件

4.1. 設(shè)置探測(cè)距離和放電模型

儀器天線接收到放電產(chǎn)生的電磁波信號(hào)，采用專有算法，根據(jù)探測(cè)距離、信號(hào)強(qiáng)度和放電模型計(jì)算出放電電壓。用戶需要設(shè)置探測(cè)距離和放電模型。

探測(cè)距離：

天線距離被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）

注意：實(shí)際測(cè)試時(shí)，天線距離被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)應(yīng)該為所設(shè)置的距離。

放電模型：

 CDM：器件本身帶有靜電，接觸到其他導(dǎo)體時(shí)發(fā)生靜電放電

 MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到器件，發(fā)生靜電放電

 HBM：帶靜電的人體接觸到器件，發(fā)生靜電放電

 Raw Input：天線所獲得的原始信號(hào)，該讀數(shù)就是用于計(jì)算放電電壓的，該模式用于儀器校準(zhǔn)

備注：在探測(cè)時(shí)，根據(jù)實(shí)際場(chǎng)景，選擇其中一個(gè)放電模型，即以此模型來(lái)計(jì)算放電電壓。實(shí)際工況可能是幾種模型的混合放電，或者無(wú)法判斷是那種放電模型時(shí)，建議選擇 CDM 模型，因?yàn)?CDM 放電造成的損壞最大。

Time-Date Setup

Time: 14:06

Date: 02/10/25

Mode: 24 H

設(shè)置日期和時(shí)間

點(diǎn)擊屏幕的距離或放電模型方框，進(jìn)入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：

 點(diǎn)擊圓盤▲/▼設(shè)置探測(cè)距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點(diǎn)擊 1 次遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點(diǎn)擊 1 次遞增 1 英寸。

 點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

4.2. 報(bào)警閾值設(shè)置

點(diǎn)擊弧形圓點(diǎn)，進(jìn)入設(shè)置界面。（備注：儀器 SD 卡只記錄超過(guò)閾值的靜電放電事件）

 點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置報(bào)警閾值，范圍 000~990V，0~10V 按 1V 增幅設(shè)置，10~990V 按 10V 增幅設(shè)置

提示：一旦設(shè)置了報(bào)警閾值，低于閾值的讀數(shù)圓點(diǎn)顯示綠色，只有高于閾值的讀數(shù)顯示紅色圓點(diǎn)。儀器 SD 卡僅保存高于閾值的讀數(shù)。選擇 000，所有讀數(shù)都高于閾值，所有讀數(shù)都保存在 SD 卡上

 如果選擇了“Raw Input"測(cè)試模式，可以選擇 1~1500mV

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

ESD Events

Distance: 4.0"10.2cm

Model: CDM

ESD Events

000 V

設(shè)置距離和模型

設(shè)置報(bào)警閾值

按以上設(shè)置完成后，即可開(kāi)始測(cè)試。測(cè)試時(shí)屏幕出現(xiàn)閃電符號(hào)，表示開(kāi)啟了信號(hào)屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號(hào)，只顯示靜電放電信號(hào)。點(diǎn)擊該符號(hào)切換到全信號(hào)模式，這時(shí)出現(xiàn)三角形符號(hào)，表示儀器顯示所有探測(cè)到的信號(hào)，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號(hào)。

測(cè)試時(shí)，電壓讀數(shù)為實(shí)時(shí)的放電電壓值（每秒中最大的值），數(shù)字為超過(guò)閾值的放電次數(shù)，最高可以累計(jì)32767 次放電次數(shù)，點(diǎn)擊 C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計(jì)。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估流程

備注：

 首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒(méi)有，通常不會(huì)有靜電放電風(fēng)險(xiǎn)，無(wú)需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。

 空載測(cè)試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測(cè)到的靜電放電現(xiàn)象

 放入靜電敏感器件后，如果沒(méi)有探測(cè)到更多的放電現(xiàn)象，表示探測(cè)到的是干擾信號(hào)/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

 如果探測(cè)到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測(cè)到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來(lái)評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)，如果放電電壓值超過(guò)器件所列明的閥值，采取措施消除危險(xiǎn)，例如采取接地、離子中和等方式

 采取消除風(fēng)險(xiǎn)的措施后，再次進(jìn)行評(píng)估

1 是否和靜電敏感器件直接

接觸或距離非常近

評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

2 進(jìn)行空載測(cè)試

3 把靜電敏感器件放入后測(cè)試，對(duì)比測(cè)試結(jié)果

4 是否測(cè)到更多的靜電放電事件？

5 評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

否

否

6 評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)程度

消除風(fēng)險(xiǎn)

按 2~5 步驟再次評(píng)估

5. 數(shù)據(jù)查看和處理

5.1. 安裝 SD 卡

1）把 SD 卡插入儀器，注意方向，白色面朝上，有金屬觸腳的在里面。注意！一定要在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。

2）插好卡后，儀器開(kāi)機(jī)，儀器會(huì)對(duì)新卡或空卡進(jìn)行初始化。然后進(jìn)入待機(jī)界面，在屏幕右中可以看見(jiàn) SD卡圖標(biāo)，表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標(biāo)或有紅叉，表示該卡不兼容。

3）超過(guò)報(bào)警閾值的測(cè)試記錄會(huì)保存在 SD 卡上。

在主界面，點(diǎn)擊 SD 卡符號(hào)，進(jìn)入查看界面。點(diǎn)擊圓盤的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動(dòng)查看。

5.2. 數(shù)據(jù)處理

向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件，解壓后雙擊 setup.exe 安裝，按指示進(jìn)行安裝，最后點(diǎn)擊 Close完成。

把 SD 卡從儀器中取出，放入配套的卡托（白色面向下插入 microSD 卡槽），然后把卡托插入電腦 USB 口

1) 打開(kāi)安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件（在桌面有快捷圖標(biāo)）

2) 點(diǎn)擊文件夾符號(hào)，選擇 SD 卡上的文件 ESD3M0003.esd

3) 打開(kāi)后可以看見(jiàn)所有的測(cè)試記錄，每條記錄表示一個(gè)時(shí)間點(diǎn)的測(cè)試記錄。例如下圖第一行（00001 條），

表示 2025 年 2 月 25 日 10 點(diǎn) 09 分 18 秒開(kāi)始探測(cè)到 45 個(gè) ESD 事件發(fā)生（報(bào)警閾值為 810V）

 每個(gè)記錄編號(hào)是指在該時(shí)間點(diǎn)開(kāi)始探測(cè)到的所有 ESD 事件，以上 00001 為例，是 10 點(diǎn) 09 分 18秒開(kāi)始探測(cè)到總共 45 個(gè) ESD 事件（僅記錄大于閾值 810V 的 ESD 事件）

 保存每條測(cè)試記錄后，用 EXCEL 打開(kāi)可以看到該條記錄內(nèi)的所有 ESD 事件

 點(diǎn)擊任一條測(cè)試記錄，然后點(diǎn)擊 File > Save 保存，直接保存.CSV 文件格式即可點(diǎn)擊這里選擇這個(gè)

記錄編號(hào) 報(bào)警次數(shù) 日期 時(shí)間 測(cè)試模型 測(cè)試距離 天線類型 閾值

4) 用 EXCEL 打開(kāi)保存的文件可以顯示詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù)（以 00001 條記錄為例）

A 欄（Number）：ESD 事件計(jì)數(shù)（總共 45 個(gè) ESD 事件）

B 欄（Time）：ESD 事件發(fā)生的時(shí)間

C 欄（Value V）：ESD 事件放電電壓（單位 V）

備注：如果 SD 卡滿，把 SD 卡插入電腦，然后清空該卡即可。重新把空卡插入儀器后，儀器會(huì)自動(dòng)初始化。

6. 故障信息

屏幕提示 解決方法

ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.

未裝上探測(cè)模塊就開(kāi)機(jī)。先關(guān)機(jī)，裝上探測(cè)模塊后再開(kāi)機(jī)使用。

ERROR: Card was removed. Data may be lost and card could be damaged.

Click here to close the window.

在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下，拔出了 SD 卡，可能會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失和SD 卡損壞。點(diǎn)擊關(guān)閉該提示，關(guān)機(jī)后插回 SD 卡。

WARNING: No memory card. You can add it at any time.

Click here to close the window.

儀器未插入 SD 卡，可以在任何時(shí)候插入 SD 卡。點(diǎn)擊關(guān)閉該提示。

PREPARING CARD FOR RECORDING!!!

DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。

WARNING: This card contains the data.

Remove the card or click here to erase the data.

該 SD 卡含有儀器無(wú)法識(shí)別的數(shù)據(jù)，取出 SD 卡或者點(diǎn)擊這里刪除數(shù)據(jù)。

ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.

Click here to close the window.

SD 卡格式不兼容，先在電腦上格式化成 FAT32 格式再使用。

ERROR!!! STACK OVERFLOWED.

Click here to turn device off.

出現(xiàn)嚴(yán)重故障。需要重置儀器，如果問(wèn)題未解決，必需返回原廠維修。

報(bào)警次數(shù) 報(bào)警閾值

測(cè)試模型

測(cè)試距離

起始時(shí)間 天線類型

備注：當(dāng)儀器出現(xiàn)死屏或其他故障時(shí)，重新開(kāi)關(guān)機(jī)，通常能解決故障。

備注：儀器長(zhǎng)期閑置，電池可能耗盡電量。這時(shí)插上電源適配器通電一段時(shí)間，然后開(kāi)機(jī)，電池重新被激活，儀器開(kāi)始充電。

7. 儀器校準(zhǔn)

770715 測(cè)試靜電放電電壓，測(cè)試方法是獲取放電信號(hào)的強(qiáng)度然后采用專有算法計(jì)算出放電電壓值。

原廠校準(zhǔn)書(shū)僅顯示儀器能否正確接收到放電信號(hào)，校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號(hào)，然后驗(yàn)證儀器接收到的信號(hào)強(qiáng)度（dBμV）是否準(zhǔn)確。

疑問(wèn)一：如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)？

答：不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，因?yàn)樵瓘S對(duì)儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均BU公開(kāi)。第三方無(wú)法對(duì)儀器能否接收正確放電信號(hào)進(jìn)行驗(yàn)證。即使第三方可以驗(yàn)證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號(hào)，后續(xù)也無(wú)法根據(jù)信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出放電電壓值，該算法為原廠專有算法，BU公開(kāi)。

所以儀器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn)，亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。

疑問(wèn)二：該儀器測(cè)試放電電壓，但為什么沒(méi)有測(cè)試精度參數(shù)？

答：靜電放電電壓和實(shí)際物體的電容有關(guān)，儀器無(wú)法事先知道被測(cè)物體的電容，只能采取一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值（根據(jù)實(shí)驗(yàn)取一個(gè)能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗(yàn)值）來(lái)計(jì)算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實(shí)際放電電壓值，而沒(méi)有一個(gè)定量的測(cè)試精度。

疑問(wèn)三：如何直觀地驗(yàn)證儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度？

答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過(guò)程，儀器實(shí)測(cè)讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗(yàn)證。